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快速冷热循环对铝薄膜结构的影响
针对铝薄膜进行了快速
冷热循环试验
。模拟焦耳热变化并研究影响机理。试验结果表明。对比于恒温加热。焦耳热循环变化会导致应力迁移速率持续变化。对铝薄膜表面形成变应力冲击。同时加剧表面疲劳微裂纹的形成与扩展。终使表面小丘数量和体积显著增加。致使集成电路失效概率大幅提高。
JESD22-A102封装IC(芯片)无偏压高压蒸煮试验
晶体硅太阳能电池片
冷热循环试验
(图)2018-06-158:58蓝狮在线-->本测试方法主要用于耐湿性评估和强健性测试。样品放置于一个高压、高湿环境下,在压力下湿气进入封装,使弱点暴露,如分层、金属腐蚀。本测试用于评估新封装或封装材料变更(塑封料、芯片钝化层)或设计变更(如芯片、触点尺寸)。但本试验不应用于基于......
晶体硅太阳能电池片
冷热循环试验
多晶硅及单晶硅电池片中,每组各自取8片,再根据GB/T9535-2005/IEC61215-2005中的
冷热循环试验
条件进行
冷热循环试验
,在相对湿度小于60%的情况下,电池片放置在蓝狮注册中,在(–40±2)℃和(85±2)℃温度之间不断循环,并保证在两个温度的保持时间15min,一次循环约4h。每循环5次取出样品进行电性能测试。
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